日前，上海产研院、集成电路中心及复旦大学Auto-ID实验室共同主办了“物联网的现实与未来——机遇与挑战并存”讲座。上海产研院院长钮晓鸣到会致辞。上海产研院、上海集成电路行业协会、上海RFID协会、RFID联盟、上科院直属单位及相关企事业单位共80余人聆听了讲座。

本次讲座特邀国际物品编码中心GS1系统完整性和全球伙伴关系副总裁Henri Barthel先生作主题演讲。Barthel先生回顾了过去40年间数据采集和共享技术的发展历程，详细介绍了供应链可追溯、可视化方面的应用，重点探讨了关于识别、数据质量、隐私与安全、监管等方面的问题，并和与会者共同分享了全球物联网标准化进展、GS1产品编码标准的最新研究动态，对如何提高数据源头的可信度，如何在互联网上实现标准化的产品信息等物联网的最新研究方向进行了描述，并就未来20年国际物联网技术的发展趋势提出了自己的见解。